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掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)的主要優(yōu)點(diǎn)及其應(yīng)用說明

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   掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)是一種常用的分析方法,可以提供有關(guān)物體彈性的信息,以及物體受到壓力或拉力時產(chǎn)生的阻力。這種測試可以對多種材料進(jìn)行分析,分析材料受力時變化行為。主要目的是評估相關(guān)參數(shù)或研究剪切應(yīng)力如何影響材料性能??梢詭椭芯咳藛T創(chuàng)建模型并研發(fā)更好的材料。
 
  掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)的主要優(yōu)點(diǎn):
  1)具有環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場發(fā)掃描電鏡。
 
  2)在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品,得到二次電子像和背散射電子像。
 
  3)較大程度降低樣品制備要求:低真空/環(huán)境真空技術(shù)使得不導(dǎo)電樣品和/或含水樣品不經(jīng)導(dǎo)電處理即可直接成像和分析,樣品表面無電荷累積現(xiàn)象。
 
  4)“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng),對導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品都可進(jìn)行EDS/EBSD分析,不管是在高真空模式或在低真空模式。穩(wěn)定的大束流確保能譜及EBSD分析工作的快速、準(zhǔn)確。
 
  5)電鏡可作為一個微觀實(shí)驗(yàn)室。安裝特殊的原位樣品臺后,在從-165°C到1500°C溫度范圍內(nèi),對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進(jìn)行動態(tài)原位分析。
 
  6)對導(dǎo)電樣品,可選用減速模式得到表面和成份信息。
 
  7)直觀、簡便易用的軟件,即使電鏡新手也能輕易上手。
 
  掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)的應(yīng)用:
  靜態(tài)或動態(tài)觀察可控的機(jī)械負(fù)荷下表面的變化,裂紋擴(kuò)展,分層,以及形成滑移面等現(xiàn)象。
 
  可以應(yīng)用于金屬,陶瓷,玻璃,陶瓷塊體材料或薄膜,電鍍層,釬焊或焊接接頭,礦物,木材,有機(jī)材料等。
 
  該拉伸臺可與現(xiàn)今絕大部分掃描電鏡配合使用。加配4個支撐角后,還可與光學(xué)顯微鏡、AFM、激光或拉曼顯微鏡聯(lián)用。

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